一、 实验目的：
了解光敏电阻的光照特性、光谱特性和伏安特性等基本特性。
二、 基来源根基理：
1、光线的作用下，电子吸收光子的能量从键合状态过渡到自由状态，引起电导率的变更，这种现象称为光电导效应。
2、光电导效应是半导体资料的一种体效应。光照愈强，器件自身的电阻愈小。基于这种效应的光电器件称光敏电阻。
3、光敏电阻无极性，其工作特性与入射光光强、波长和外加电压有关。
三、 需用器件与单元：
主机箱、装置架、普通光源、各种滤光镜、 光电器件实验（一）模板 、光敏电阻探头、照度计模板、光照度探头。
四、 实验步调：
1、亮电阻和暗电阻丈量 （1）光敏电阻实验原理图 （2）调节光敏电阻工作电压： （3）亮电阻测试： （4）暗电阻测试： 实验结果： 分析：
一般情况下，实用的光敏电阻的暗电阻往往超出1MΩ,甚
至高达100MΩ，而亮电阻则在几kΩ以下，可见丈量数据有效。 2 光照特性测试
光敏电阻的工作电压一定时（5V），它的阻值（光电流）随光照度变更而变更。按表3-2进行丈量，作图3-2.。 分析：
理论上，光敏电阻在弱光照下，光电流I与光照度E具有良好的线性；在强光照下则为非线性。根据测试数据所画得的光照特性曲线较好地满足上述情况，说明实验操纵准确。 3 伏安特性测试
光敏电阻在一定的光照度下，光电流随外加电压的变更而变更 （1）调节光源电压为100Lx时对应的电压值
（2）调节光敏电阻工作电压的值读取相应的光电流
（3）重复测试分歧照度的伏安特性，将丈量数据填入表3-3，并作图3-3。 分析：
（1）、由图3-3可知，在给定光照下，光敏电阻的阻值与外加电压无关，仅由光敏电阻自己性质决定，但是分歧光照情况下的伏安特性具有分歧的斜率，即光照强度分歧，阻值分歧。
（2）、当光敏电阻承受的功率超出它自己的额定功率，曲线开始变弯，说明光电流趋向饱和。 4 光谱特性测试
光敏电阻在一定的工作电压时，在等能量、分歧波长的光作用
下，其阻值的变更是分歧的，即光电流大小纷歧样。本实验光功率以1mW为尺度，更换光源前端盖的滤光镜获得分歧波长的光。将丈量数据填入表3-4，并作图3-4。 分析：
光谱特性与光敏电阻资料有关。从图3-4可知，本实验选用的光敏电阻的光谱响应范围在可见光区域，而峰值大概出现在600nm，在稍离此波长的光谱响应迅速衰减，在远离处则无响应。因此，在选用光敏电阻时，应把光敏电阻的资料和光源种类相结合考虑，以获得满意的结果。
五、 思考题
为什么测光敏电阻亮阻和暗阻要经过10秒后再读数？ 答：
因为光敏电阻是依靠非平衡载流子效应工作的，非平衡载流子的发生与复合都是一个时间过程，此过程在一定程度上影响光敏电阻对光照的响应。因此，测亮阻和暗阻时要考虑此时间过程，一般取值10秒。
六、 实验总结
1、在丈量光照特性前，要先明确所用光源的光照度与光源工作电
压的对应关系，以便通过调节电压控制光照度的大小。
2、在丈量光谱特性前，要先明确分歧波长的光源光功率与光源电
压的对应关系，以确保采取分歧波长时，其功率大小一致。
3、因为光敏电阻随光照变更是个时间过程，加上丈量仪器的灵敏
度和精度有限，所以需要我们有
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